半導體刻蝕、擴散工序高度依賴氬氣、氦氣、氮氣作為工藝載氣與保護介質(zhì)，整套制程處于高溫真空環(huán)境，管路密封滲漏、純化設備性能衰減帶來的 ppmV 級微量水分，會快速與硅晶圓基底發(fā)生氧化反應，在晶片表面形成氧化瑕疵，破壞光刻圖形結構，直接拉低整片晶圓生產(chǎn)良率。想要持續(xù)穩(wěn)定把控工藝氣體水分含量，行業(yè)常將英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 與 SU4 樣品調(diào)節(jié)裝置配套部署在特氣輸送管路，搭建完整的氣體取樣監(jiān)測體系。

針對氬氣、氦氣、氮氣這類超干燥高純氣體監(jiān)測需求，英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 可選用 S 銀色或 R 紅色傳感器，S 銀色傳感器覆蓋 - 100℃至 - 20℃露點量程，R 紅色傳感器測量區(qū)間為 - 80℃至 - 20℃露點，兩類傳感器均可覆蓋半導體車間普遍要求的超低露點管控區(qū)間。英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 搭載氧化鋁電容傳感元件，干態(tài)轉(zhuǎn)濕態(tài)響應時長不足 20 秒，管路內(nèi)水分出現(xiàn)小幅波動時，儀器可快速捕捉數(shù)值變化，0.1℃的細分分辨率能清晰反饋 ppmV 級水分差異，便于工作人員及時定位氣源異常點位。

英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 自帶 AutoCal 自動校準功能，借助設備面板電位器即可完成現(xiàn)場量程核查，無需頻繁拆卸下線送檢，減少產(chǎn)線監(jiān)測中斷時長。設備配備兩路獨立可編程報警繼電器，運維人員可根據(jù)刻蝕、擴散工序工藝標準設定露點閾值，一旦特氣水分超標，英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 會立刻輸出報警信號；標配隔離 4-20mA 模擬輸出接口，可對接工廠中央控制系統(tǒng)，實時上傳露點數(shù)據(jù)完成長期記錄留存。

安裝適配性上，英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3 為標準 DIN 面板安裝結構，前面板 IP54 防護等級，能夠適應半導體車間恒溫潔凈但持續(xù)通風的現(xiàn)場環(huán)境；探頭接觸部件采用 316 不銹鋼材質(zhì)，搭配 50 微米燒結不銹鋼過濾器，阻隔氣體管路內(nèi)細微粉塵雜質(zhì)，降低傳感器損耗。儀表與傳感器最遠支持 1000 米距離布設，適配晶圓廠房特氣主管路分散布局的工況，整機與傳感器同步享有 12 個月質(zhì)保周期。

在刻蝕、擴散工序氬氣、氦氣、氮氣管路搭配 SU4 調(diào)壓裝置部署英國 SHAW 在線式露點儀 Superdew3，能夠?qū)崿F(xiàn)工藝氣體微量水分不間斷在線監(jiān)測，提前察覺氣源純化、管路密封的異常問題，減少晶圓氧化缺陷帶來的物料損耗，為半導體精密制程提供穩(wěn)定可靠的氣源監(jiān)測保障。