半導(dǎo)體晶圓制造環(huán)節(jié)大量使用高純氮?dú)庾鳛榇祾摺⒈Wo(hù)用氣,氮?dú)獯祾吖苈坟灤┛涛g、光刻、鍵合等多個工序,高純氮?dú)鈨?nèi)部混入的水汽,會成為影響晶圓良率的重要因素。管路接頭密封不嚴(yán)、供氣系統(tǒng)吸附材料性能衰減、管道內(nèi)部殘留濕氣,都容易造成高純氮?dú)猱?dāng)中水分含量上升。水汽附著在晶圓表面,會造成表面氧化、微粒附著,引發(fā)晶圓表面缺陷,間接造成后續(xù)制程出現(xiàn)異常。企業(yè)除了做好供氣系統(tǒng)維護(hù),還需要對氮?dú)獯祾吖苈烽_展常態(tài)化檢測,美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 可承擔(dān)現(xiàn)場氣體檢測任務(wù),為半導(dǎo)體晶圓制造的氣體環(huán)境管控提供支撐。

美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 適配半導(dǎo)體行業(yè)高純氣路采樣條件,美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 可對接氮?dú)獯祾吖苈返念A(yù)留采樣口,完成管路內(nèi)氣體取樣分析。在半導(dǎo)體晶圓制造現(xiàn)場,氮?dú)鈺臍庠炊溯斔椭粮鱾€工藝機(jī)臺,整條管線不同位置的氣體狀態(tài)會存在區(qū)別,氣源出口合格,不代表機(jī)臺末端的氮?dú)馔瑯訚M足條件,管線長距離輸送過程中的滲漏,往往發(fā)生在管路中段或者靠近設(shè)備的末端點(diǎn)位。美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 支持在管線的多個節(jié)點(diǎn)開展取樣,工作人員可借助美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 依次檢測氣源端、管路中轉(zhuǎn)點(diǎn)位、機(jī)臺吹掃進(jìn)氣端,梳理整條氮?dú)獯祾吖苈返穆饵c(diǎn)分布情況,識別出管路中水分異常升高的位置。
半導(dǎo)體廠區(qū)內(nèi)的高純氣體管路系統(tǒng)復(fù)雜,部分檢測點(diǎn)位空間緊湊,美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 的采樣回路可以匹配現(xiàn)場氣路接口,能夠適應(yīng)晶圓車間潔凈廠房的使用環(huán)境。半導(dǎo)體車間當(dāng)中除水分以外,管路中還會伴隨少量雜質(zhì)氣體,這類組分不會直接干擾美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 的檢測過程,保障美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75 可以穩(wěn)定反饋管路氣體的濕度情況。現(xiàn)場運(yùn)維人員還可以使用美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM75,定期對車間已經(jīng)安裝的在線監(jiān)測設(shè)備做比對核驗(yàn),及時發(fā)現(xiàn)在線設(shè)備出現(xiàn)的讀數(shù)漂移,避免依靠失準(zhǔn)的數(shù)據(jù)開展工藝調(diào)節(jié)。
氮?dú)獯祾吖苈返臐穸缺O(jiān)測屬于持續(xù)性工作,并非一次性檢測就可以完成管控。隨著設(shè)備長時間運(yùn)行,密封件老化、濾芯損耗都會慢慢帶來水分侵入問題。依靠美國 Edgetech 冷鏡露點(diǎn)儀 PDM5 開展周期性巡檢,企業(yè)能夠掌握高純氮?dú)獯祾吖苈烽L期的濕度變化趨勢,提前發(fā)現(xiàn)供氣系統(tǒng)的潛在隱患,及時開展管路維護(hù)與配件更換,減少水汽以及雜質(zhì)氣體對晶圓帶來的負(fù)面影響,維持半導(dǎo)體晶圓制造的生產(chǎn)穩(wěn)定性,降低因?yàn)闅怏w環(huán)境異常帶來的產(chǎn)品損耗,適配不同規(guī)模半導(dǎo)體產(chǎn)線的日常氣體檢測工作