晶圓蝕刻、擴(kuò)散、薄膜沉積是半導(dǎo)體芯片制造核心精密工序,生產(chǎn)過程大量使用高純氮?dú)狻鍤狻⒑庾鳛楸Wo(hù)載氣,這類氣體中微量水分是芯片良率的隱形殺手。水汽會(huì)造成晶圓表面氧化、薄膜沉積不均、刻蝕側(cè)壁粗糙、器件漏電短路,批量降低芯片良品率。想要全天候管控載氣水分含量,實(shí)時(shí)捕捉露點(diǎn)異常,英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀成為半導(dǎo)體產(chǎn)線標(biāo)配監(jiān)測(cè)設(shè)備。

英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀專為半導(dǎo)體高純載氣微量水分在線監(jiān)測(cè)打造,搭載原廠超高電容氧化鋁傳感器,覆蓋 - 100℃~+20℃全露點(diǎn)區(qū)間,S、R 低露點(diǎn)傳感器適配晶圓工藝超低露點(diǎn)監(jiān)測(cè),可精準(zhǔn)檢測(cè) 0~1000ppm (v) 微量水汽,系統(tǒng)精度達(dá) ±2℃露點(diǎn),分辨率 0.1℃,能夠精準(zhǔn)識(shí)別氮、氬、氦氣中極細(xì)微水分波動(dòng),為蝕刻、擴(kuò)散、沉積工藝提供可靠數(shù)據(jù)支撐。整條特氣輸送管路、設(shè)備腔體進(jìn)氣端均可加裝英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀,實(shí)現(xiàn)全流程多點(diǎn)同步監(jiān)控。
傳統(tǒng)人工定時(shí)取樣檢測(cè)存在巨大滯后,干燥純化塔分子篩失效、特氣管路微滲漏等隱患無法及時(shí)發(fā)現(xiàn),極易造成整片晶圓報(bào)廢。英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀支持 24 小時(shí)不間斷在線監(jiān)測(cè),干轉(zhuǎn)濕響應(yīng)時(shí)間小于 20 秒,載氣水分突增瞬間即可反饋數(shù)值;儀器配備兩路獨(dú)立可編程報(bào)警繼電器,可按半導(dǎo)體工藝設(shè)置 - 70℃、-90℃露點(diǎn)預(yù)警閾值,露點(diǎn)超標(biāo) 0.1℃即刻觸發(fā)報(bào)警,運(yùn)維人員能快速檢修干燥系統(tǒng),從源頭阻斷水分進(jìn)入蝕刻、擴(kuò)散、沉積腔體,從根本杜絕芯片良品率大幅下降。
英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀適配半導(dǎo)體潔凈高壓工況,傳感器接觸部件采用 316 不銹鋼,搭配 50 微米燒結(jié)不銹鋼過濾器,阻隔載氣內(nèi)微小顆粒雜質(zhì),避免傳感器污染漂移;設(shè)備耐壓覆蓋 1kPa 至 350barA,適配高壓高純載氣輸送管線。標(biāo)配隔離 4-20mA 線性模擬輸出,信號(hào)最遠(yuǎn)傳輸 1000 米,可接入工廠 DCS、PLC 系統(tǒng),遠(yuǎn)程統(tǒng)一查看各工藝點(diǎn)位載氣露點(diǎn),實(shí)現(xiàn)微量水分閉環(huán)管控。
英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀搭載 AutoCal 自動(dòng)校準(zhǔn)功能,出廠附帶可追溯至英國 NPL 國家物理實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)證書,測(cè)量數(shù)據(jù)滿足半導(dǎo)體行業(yè)質(zhì)檢溯源要求;5 字符背光 LED 屏支持℃、ppm (v) 單位自由切換,現(xiàn)場(chǎng)直觀讀取載氣水分指標(biāo),操作簡(jiǎn)單便捷。整機(jī)與傳感器享有一年質(zhì)保,大幅降低半導(dǎo)體工廠儀表運(yùn)維成本。
眾多晶圓制造項(xiàng)目實(shí)踐證明,在蝕刻、擴(kuò)散、沉積載氣管道安裝英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀后,高純工藝氣露點(diǎn)長期穩(wěn)定達(dá)標(biāo),晶圓缺陷、報(bào)廢問題顯著減少。總而言之,英國 SHAW 肖氏 Superdew 3 在線露點(diǎn)儀是半導(dǎo)體精密工序不ke或缺的監(jiān)測(cè)設(shè)備,依靠持續(xù)穩(wěn)定的微量水分在線監(jiān)測(cè)能力,牢牢守住高純載氣純度底線,規(guī)避水分引發(fā)的芯片品質(zhì)缺陷,為芯片穩(wěn)定量產(chǎn)、保障良品率筑牢關(guān)鍵防線